SJ 50033.105-1996 半导体分立器件3DK404型功率开关晶体管详细规范
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ID： |
9536CC0767BF4FDAA3380F153BC49471 |
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文件大小(MB)： |
0.65 |
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页数： |
11 |
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日期： |
2024-7-27 |
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中华人民共和电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/105-96,半导体分立器件,3DK404型功率开关晶体管,详细规范,h Semiconductor discrete devices,Detail specification for type,3DK404 power switching transistor,1996-08-30 发布1997-01-01 实施,中华人民共和国电子工业部 批准,ww. bzfxw. com下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,3DK404型功率开关晶体管,详细规范,SJ 50033/105-96,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type,3DK404 power switching transistor,范,1.1 主题内容,本规范规定了 3DK404型功率开关晶体管（以下简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33《半导体分立器件总规范》L3的规定,提供的质量保证等级为普军、特军和超特,军三级,分别用字母GP、GT和GCT表示,2引用文件,GB 4587—94,GB 7581—87,GJB 33—85,GJB 128—86,双极型晶体管,半导体分立器件外形尺寸,半导体分立器件总规范,半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层,中华人民共和国电子工业部1996-08-30发布1997-01-01 实施,1,SJ 50033/105-96,引出端材料应为可伐,引出端表面应为锡层或鎳层,3.2.2 器件的结构,采用三重扩散平面结构,3.2.3 外形尺寸,外形尺寸应符合GB 7581的B2-01B型（见图1）,集电极接外壳,图1外形图,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3.I 最大额定值,\ 特,X性,型、,へ,p 1),r tut,底=25ヒ,w,VcbO,V,VcEO,V,Vebo,V A,九,A,丁 J Tユ Stg,r,3DK404B 500 400,3DK404C,3DK404D,15 600,700,500,600,5 1.0 0.5 175 -55-175,注:1）員＞25匕时,按0.1W/む的速率线性地降额,3.3.2 主要电特性（Ta = 25C）,2,SJ 50033/105-96,ヽ\特,力FF1,?0门ス,H (th)「 c,ヽ1,型 \,号 、,= 10V ド。,A Ic = 0.5A,*0.1A,V,c = 0丒5A,=-rB2 = 0.2A,Vce = 10 V,/e = 0.2A,r/w,最小值最大值最大值最大值,3DK404B,3DK404C,3DK404D,10 1.2 1.5 1 2 0.8,__________ ,10,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 458?及本规范的规定,3.5 标志,标志应符合GJB 33和本规范的规定,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表X的规定进行,超过本规范,表1极限值的器件应予剔除,7.中间电参数测试,筛 选,（见GJ 33的表2）,测试或试验,3,热冲击,（温度循环）,温度:一55~150匕,次数:20,［しめ和れFE1,功率老炼条件如下:,= 162.5± 12.5(0,VCE = 30V,PQ7.5W,8.功率老炼,9?最后测试,按本规范表1的A2分组,△Icboiく初始值的100%或1005A,取较大者,△んFFI&初始值的±20%,4.4 质量一致性检验,质量一致性检险应按GJB 33的规定,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,3,SJ 50033/105-96,4.4.2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行,4.4.3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行,4.5 检验方法,检验方法应按本规范相应的表和下列规定进行,4.5.1 脉冲测试,脉冲测试应按GJB 128的3.3.2.1的规定,表1 A组检验,检验或试脸,GB 4587,方法〕 条 件LTPD 符号,极限值,最小取大,单位,A1分组,外观及机械检验,5,GJB 128,2071,A2分组,集电极ー发射极,击穿电圧,3DK404B,本规范,附录A,发射极-基极开路,Iq = 1mA,5,3DK404C,3DK404D,发射极丒基极,击穿电压,集电极一基极,截止电流,集电极ー发豺极,截止电流,集电极ー发射极,饱和电压,基极ー发射极,饱和电压,正向电流传输比,2ヽ9、2ヽ2,2.1,2.14,2.3,2.4,2.8,集电极?基极开路,『e = 1 mA,发射极?基极开路,发肘极?基极开路,Vcf-0.5VVcfo,Iq = 0. 5 A,Zb = O.1A,脉冲法（见4 5 1）,fc = O.5A,30.1A,匕f = iov,/c-0.5A,脉冲法（见4 5 1）,^(RR)CEO,^(BR)FRO,^CBOl,J CFO,^CEsat,无FF1,400,500,6……
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